표준연, 반도체 산화막 두께측정 국제기준 수립 성공
이전
다음
KRISS 표면분석팀 연구진이 초박막 두께를 측정하고 있다. 사진제공=한국표준과학연구원
공유하기
facebook 공유
twitter
kakao
복사
KRISS 표면분석팀 연구진이 초박막 두께를 측정하고 있다. 사진제공=한국표준과학연구원