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한국표준과학연구원(KRISS)은 물질량표준부 나노표면그룹의 문대원(54ㆍ책임연구원) 박사를 ‘2004 KRISS인’으로 선정, 시상했다고 5일 밝혔다. 문 박사는 초박막 속 원자의 배열 상태와 결합된 힘을 측정하는 초박막 원자분석기술 및 장비를 개발, 국내 표면분석기술을 세계 최고수준으로 끌어올린 공로가 컸다고 연구원측은 소개했다. 그가 개발한 이 기술은 초고집적 반도체 소자와 고밀도 기록매체 등 신소재를 개발하는 데 필요한 핵심 기술이다.
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