폐휴대폰 ‘유해중금속 덩어리’

폐휴대폰에서 납, 카드뮴 등 인체에 유해한 중금속이 다량 검출되고 있는 것으로 드러났다.

한나라당 홍문종 의원은 22일 국회 환경노동위원회 환경부 국정감사에서 한국자원지질연구원의 `귀금속 회수 상용화 기술개발` 연구보고서를 인용, 이같이 밝혔다.

이 보고서에 따르면 연구원이 지난 7월 환경부와 과학기술부의 용역을 받아 국내에서 생산되는 휴대폰 14개 모델을 무작위로 선정, 화학분석을 거친 결과 폐휴대폰의 인쇄회로기판(PCB)에서 납 31~445ppm, 코발트 293~728ppm, 베릴륨 70~140ppm, 비소 11~39.6 ppm, 카드뮴 2.0~9.1ppm 등 다량의 중금속이 검출됐다.

홍의원은 “무게 28g 정도인 인쇄회로기판 가운데 납 함유비율은 평균 1.04%로 폐휴대폰 발생량을 연간 1,400만대로 추산할 때 매년 39.6톤의 납이 휴대폰에서 배출되고 있는 셈”이라며 “환경오염으로 인한 피해를 최소화하고 재활용으로 인한 자원생산 효과를 거두기 위해 2005년으로 예정된 휴대폰의 생산자 책임활용제도(EPR)시행시기를 앞당겨야 한다”고 촉구했다.

<이왕구 기자 [e-mail]>