연구팀은 나노입자를 실리콘 웨이퍼 위에 떨어뜨려 자기조립패턴을 형성하게 한 뒤 샘플표면을 이미징해 나노입자 뿐 아니라 입자 표면 분자에 대한 정보를 직접 분석했다. 기존 나노입자 표면 분석 방법은 나노입자와 용매액이 섞인 샘플 자체를 검사함으로써 정확한 분석이 불가능했다.
연구팀은 이차이온질량분석기를 이용해 나노입자와 입자 표면의 유기분자와의 상호연관성을 분석했고 적외선분광분석기를 이용해 분자의 결합상태에 따라 달라지는 진동 모드의 차이를 측정·분석함으로써 유기분자가 입자 표면에 어떤 형태로 결합하고 있는지를 밝혀했다. 이 두 가지 분석기술을 동시에 사용함으로써 나노입자 표면에 존재하는 분자의 분석 정확도를 높였다.
이태걸 박사는 “나노입자 표면의 유기분자를 분자적 수준에서 분석함으로써 가장 실제와 가까운 나노입자의 표면 상태를 확인할 수 있다는 점에서 중요한 의의를 가진다”고 말했다.
대덕=구본혁기자 nbgkoo@sed.co.kr
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